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可以测试在50GHz运转的高速微电子和纳米电子器件连接和测试系统(温莎大学)

  • 时间: 2016-04-08 11:53:15
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项目名称
 
可以测试在50GHz运转的高速微电子和纳米电子器件连接和测试系统
项目信息
1.项目技术领域
信息技术、通讯、数字技术     
2.项目技术描述
100%的电子器件在安装前都需要测试,随着这些器件持续地变地越来越小、越来越快,现有的微级和纳米级技术只能够实现48个测试点和1012GHz的速度。本技术可以处理一平方厘米内有几千个测试连接点、传输速度高至40GHz的测试。
3.项目的技术优势
本系统非常快速,可以同时处理几百个千个纳米级的连接,从而实现针对电子器件的更好更快的测试。另外,本系统可以根据不同被测试器件设置不同的参数,进一步提高效率。
4.项目技术优势的可持续性
鉴于整套设备报废的成本太高,未来对于电子器件测试的需求将持续增加。本系统可以进行上游测试尽早地甄别有缺陷的器件,从长期角度实现最低的成本。
5.项目的技术风险
对于本技术和其他的类似技术而言,元器件持续地变快导致技术不能与与器件的速度保持匹配是这类技术的风险。尽管本技术是市场上其他技术的四倍,但是目前已经有元器件的速度高于本技术的速度能力。虽然针对高速元器件,我们可以在较低速度下测试,但是最好还是在全符合运转的情况下测试这些元器件。
6.项目当前发展状况和进度
针对本技术,已经开发了模型并进行了测试,目前已经升级至8.0Beta测试版并可以进行全负荷量产。
7.预期达到的市场价值
本技术可以增加至现有电子元器件的测试机器上,可以升级机器的价值,提高机器进行薄片级测试和测试更多数量元器件的能力。本技术可以用于元器件特定测试仪器底座的制造,这种底座可以在单个多层底座上同时容纳几百个元器件。这将在很大程度上提高现有测试仪器的吞吐连。
8.知识产权形式
专利
9.尚需解决的技术问题描述
本技术的接受方需具备完整的纳米级加工能力,才能应用本技术来制造用于不同测试仪器的测试底座。
10.合作方式
技术转让;技术许可;生产工艺、设备转让
11.计划投资金额
50,000美金以内,另外需要根据生产量收取特许使用权费   

 

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